《GB/T 41423-2022 LED封裝長期光通量和輻射通量維持率的推算》文件由中國輕工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出，由全國照明電器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 224)歸口，文件于2022-4-15發(fā)布，2022-11-1實(shí)施；等同采用IEC 63013:2017《LED封裝  長期光通量和輻射通量維持率的推算》。引用IEC 62504、ANSI/IES TM-21-19、ANSI/IES LM-80-20。

        標(biāo)準(zhǔn)范圍

        標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了LED封裝的光通量維持率的測試程序和條件，同時(shí)還提供了根據(jù)收集到的有限的光通量維持率測試數(shù)據(jù)來推算光通量長期維持率的程序和條件(準(zhǔn)則)。該標(biāo)準(zhǔn)同樣適用于輻射通量和光量子通量長期維持的推算；也適用于普通照明和植物光照用LED封裝。
        標(biāo)準(zhǔn)中的推算方法所使用的測試數(shù)據(jù)，按照ANSI/IES LM-80-20(LM-80)的方法收集所得。長期維持的推算程序基于ANSI/IES TM-21-19(TM-21)中的指數(shù)似合函數(shù)，且在ANSI/IES TM-21-19的指數(shù)似合函數(shù)不適用的情況下，給出了另一種邊界函數(shù)程序測試方法、數(shù)據(jù)收集和樣品數(shù)量應(yīng)根據(jù)ANSI/IES LM-80-20規(guī)定方法收集光通量維持率的測試數(shù)據(jù)；建議采用小于1000h間隔來測量光通量。測試周期不宜超過6000h。

        光通量維持率推算方法

        推算方法包括：指數(shù)擬合函數(shù)（Exponential fit function，EFF）和邊界函數(shù)（Border function，BF），其中應(yīng)將EFF作為主要推算方法，僅當(dāng)EFF的α≤0時(shí)，使用BF推算。
        如ANSI/IESTM-21-19所述，EFF方法基于如下假設(shè)，在早期光通量衰減模式結(jié)束后，可以使用曲線擬合函數(shù)來擬合和外推后續(xù)測試數(shù)據(jù)，公式如下：
        Φ(t）=Be（-at）

        其中：

        t:運(yùn)行時(shí)間；
        Φ(t)：在時(shí)間t時(shí)的光通量輸出歸一化平均值；
        B：由最小二乘法曲線擬合派生出的推算初始化常數(shù)；
        α：最小二乘法曲線擬合派生出的衰減率常數(shù)。
        Lp= ln(100*B/p)/α
        Lp：以小時(shí)表示的流明維持壽命，p為剩余流明與初始流明的百分比。
        (當(dāng)α>0時(shí)，指數(shù)擬合曲線會(huì)衰減至零，Lp是正值；當(dāng)α<0時(shí)，指數(shù)擬合曲線會(huì)隨著時(shí)間的增加而增加，但Lp是負(fù)值。)

        在報(bào)告中，可計(jì)算壽命為完全按照上面的公式計(jì)算得到，而報(bào)告壽命以不超過測試總時(shí)間的5.5倍為限。

        報(bào)告要求
        杭州翊明科技有限公司通過對(duì)GB/T 41423-2022標(biāo)準(zhǔn)的解讀與理解，開發(fā)出LEDLM-84PL流明維持率和老化壽命測試系統(tǒng)，此系統(tǒng)為企業(yè)提高LED封裝光通量長期維持率推算有據(jù)可依，為企業(yè)、用戶和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)部門對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量管控提供了標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)。